Fokussierter Ionenstrahl

Der fokussierte Ionenstrahl (FIB) wird in der Materialanalyse eingesetzt, um Proben mit hoher Präzision zu schneiden, zu bearbeiten und präparieren. Er ermöglicht die Darstellung mikro- und nanoskaliger Strukturen und unterstützt so detaillierte Untersuchungen im Werkstoffbereich.