Rasterkraftmikroskopie ist ein kraftbasiertes SPM-Verfahren, bei dem eine feine Spitze an einem Cantilever die Probenoberfläche im Kontakt-, Tapping- oder Non-Contact-Modus abscannt. Aus der Durchbiegung werden topografische und nanomechanische Informationen mit atomarer bis nanometrischer Auflösung gewonnen. In der Werkstoffwissenschaft erlaubt AFM die Charakterisierung von Rauheit, Phasenverteilung, Adhäsion, Elastizität und lokalen Versagensmechanismen unter kontrollierten Umgebungsbedingungen.