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ICAA20 (2026)
Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist ein bildgebendes Verfahren, bei dem eine fokussierte Elektronenstrahlsonde die Probe rastert und sekundäre oder rückgestreute Elektronen detektiert. Sie ermöglicht hochauflösende Topographie- und Gefügedarstellung, Korngrößenanalyse, Bruchflächenuntersuchung und Phasenkontrast. In Kombination mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) oder EBSD liefert sie lokale chemische Zusammensetzung und Kristallorientierung in Werkstoffen.
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