Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist ein bildgebendes Verfahren, bei dem eine fokussierte Elektronenstrahlsonde die Probe rastert und sekundäre oder rückgestreute Elektronen detektiert. Sie ermöglicht hochauflösende Topographie- und Gefügedarstellung, Korngrößenanalyse, Bruchflächenuntersuchung und Phasenkontrast. In Kombination mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) oder EBSD liefert sie lokale chemische Zusammensetzung und Kristallorientierung in Werkstoffen.