Rasterelektronenmikroskopie nutzt fokussierte Elektronenstrahlen, die die Probenoberfläche zeilenweise abtasten. Detektierte Sekundär- und Rückstreuelektronen liefern topografische und chemisch kontrastierte Bilder mit hoher Tiefenschärfe, während EDX- oder EBSD-Detektoren Elementverteilung und Kristallorientierungen erfassen. REM ist zentral für Mikrostrukturanalyse und Fehlerursachenforschung.