Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung

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Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung

Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung nutzt Sekundär- und Rückstreuelektronen sowie EDX/EBSD für Morphologie-, Zusammensetzungs- und Kristallographiestudien. In-situ-Stages ermöglichen mechanische, thermische oder Umgebungsprüfungen; Bruchflächen- und Schadensanalysen profitieren von hoher Auflösung und großen Tiefenschärfen.

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