Rasterelektronenmikroskopische kristallographische Charakterisierung mittels EBSD liefert orientierungsaufgelöste Karten von Körnern, Korngrenzen und Spannungsfeldern. Die Methode ermöglicht Quantifizierung von Textur, Korngrenzentypen und plastischer Deformation und ist zentral für Mikrostruktur–Eigenschafts-Zusammenhänge in Metall- und Keramiksystemen.
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