Vortrag
09.10.2025
Generisches Deep Learning Modell zur Korngrößenanalyse in der Materialmikroskopie
Bernthaler, T. (V)¹; Rathod, K.¹; Choudhary, A.-K.²; Jansche, A.¹; Ketzer-Raichle, G.¹; Schneider, G.¹
59. Metallographie-Tagung 2025 - Materialographie
