Polykristalline Gefüge lassen sich gut durch ortsaufgelöste Ermittlung (Mapping) abbilden, bei der die Maps aus Orientierungsdaten rekonstruiert werden, die durch das Electron-Backscatter-Diffraction-(EBSD)-Verfahren im Rasterelektronenmikroskop (REM) erfasst wurden. Diese Maps sind sehr hilfreich bei der Abgrenzung von Korngrenzen in solchen Gefügen und eignen sich daher sehr gut für die Korngrößenanalyse. Um diese Analysen jedoch so präzise wie möglich zu gestalten, müssen die Auswirkungen der verschiedenen Parameter verstanden werden, die für die Korngrößenmessung mittels EBSD relevant sind, so dass eine genaue Korngrößenschätzung erreicht wird. Insbesondere befasst sich die Studie mit dem Einfluss des Korntoleranzwinkels und der Mindestanzahl an Messpunkten auf die Endergebnisse und sie betrachtet darüber hinaus andere relevante Parameter. Es werden Richtlinien für die geeignete Auswahl von Werten für diese Parameter vorgeschlagen.