Die Unterscheidung der verschiedenen Graphitmorphologien in Gusseisen wird schon seit einiger Zeit durch bildanalytische Untersuchungen erfolgreich vollzogen und ersetzt zunehmend den subjektiven Vergleich mit Richtreihenbildern gemäß den Normen ASTM A 247–67 bzw. DIN EN ISO 945.

In vorliegender Arbeit bildete die teilchenbasierte Methode die Grundlage für weitere Untersuchungen an reinen Proben aus Gusseisen mit Lamellen-, Vermikular- und Kugelgraphit (GJL, GJV bzw. GJS) sowie an Temperguss (GJM). Im Licht- (LM) und im Raster-Elektronen-Mikroskop (REM) wurden Gefügeaufnahmen gemacht und die beiden Formparameter Rundheit und Kompaktheit für verschiedene Vergrößerungen bestimmt. Die Abhängigkeiten der Formparameter von der Vergrößerung wurden dargelegt und diskutiert.

Weiterhin waren die gewonnen Messdaten Grundlage zum Aufbau eines Klassifikators, der für beliebige Vergrößerungen des zu untersuchenden Gefüges erstellt werden kann.

Dieser Klassifikator wurde darüber hinaus an verschiedenen Gefügebildern gestestet und seine Qualität in Bezug auf die Klassifizierung verschiedener Graphitmorphologien anhand der beiden formcharakteristischen Formparameter bewertet. Es ist vorstellbar, den Parameter Vergrößerung in eine Klassifizierungssoftware mit einzubauen.