| Kurzfassung |
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Die Herstellung von metallographischen Standard-Querschliffen von Kupfer- und Gold-Drahtbonds mit darunter liegenden Cu/low-k-Verbindungsschichten ist schwierig, da diese sehr leicht während des Polierprozesses brechen. Durch eine geeignete Flüssig-Verguss-Methode und durch Polieren mit einem halbautomatischen System bei sehr geringen Reibungskräften und durch Einsatz von feinerer Tonerde oder Diamantläppfilmen kann dies leicht beherrscht werden. REM-Beobachtungen der polierten Gefüge bis zu Vergrößerungen von 5000- bis 8000-fach zeigten keine Mikrorisse oder Verschmierungen von Kupfer.
Sarangapani Murali and Narasimalu Srikanth (2007). Mechanical Cross-Sectioning of Au/Cu Wire Ball Bond with Underneath Cu/low-k Interconnect Layers. Practical Metallography: Vol. 44, No. 3, pp. 129-136. doi: 10.3139/147.100332 © Carl Hanser Verlag GmbH & Co. KG ISSN 0032-678X
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