| Kurzfassung |
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Um eine solide Basis für die Korrelation von Mikrostruktur und Wasserstoffisotop-Rückhaltung in Wolfram zu schaffen, wurden aus einer einzigen Fertigungscharge polykristallinen Wolframs durch standardisierte Polier- und Wärmebehandlungsverfahren Referenzproben mit unterschiedlichen Mikrostrukturen gefertigt. Repräsentative Proben wurden mittels Rasterelektronenmikroskopie, Rastertransmissionselektronenmikroskopie und Rückstreuelektronenbeugung analysiert. Es wird gezeigt, dass durch eine Erhöhung der Glühtemperatur von 1 200 auf 1 500 K praktisch nur die Dichte von Versetzungen und Korngrenzen mit sehr kleinen Missorientierungen von weniger als 2° reduziert wird, während beim Glühen bei 1 700 und 2 000 K aufgrund von Kornwachstum auch die Dichte der Großwinkel-Korngrenzen sinkt. Verglichen mit bei 1 200 K geglühtem Wolfram nimmt zudem auch die Versetzungsdichte um beinahe zwei Größenordnungen ab. Weiterhin werden zwei verschiedene Texturen auf der Vorder- und Rückseite der Proben besprochen, die durch Röntgenbeugung und EBSD entdeckt wurden.
A. Manhard, M. Balden, and S. Elgeti (2015). Quantitative Microstructure and Defect Density Analysis of Polycrystalline Tungsten Reference Samples after Different Heat Treatments. Practical Metallography: Vol. 52, No. 8, pp. 437-466. doi: 10.3139/147.110354 © Carl Hanser Verlag GmbH & Co. KG ISSN 0032-678X
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