Eine geeignete Gefüge-Charakterisierung ist die Grundlage zur Gefüge-Quantifizierung, und damit auch zur Gefüge-Klassifizierung und dem Ableiten von Prozess-Gefüge-Eigenschaftskorrelationen. Die immer komplexer werdenden Gefüge moderner Werkstoffe können durch eine Charakterisierungsmethode allein allerdings oft nicht mehr vollständig erfasst werden. Für eine vollumfängliche Beschreibung des Gefüges über mehrere Betrachtungsskalen hinweg müssen dann mehrere Charakterisierungsmethoden in einem korrelativen Ansatz kombiniert werden. In dieser Arbeit wird ein korrelativer Ansatz bestehend aus Lichtmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenrückstreubeugung vorgestellt, der eine kombinierte Gefüge-Quantifizierung aus den Mikroskop-Aufnahmen sowie den Daten der Elektronenrückstreubeugung ermöglicht. Die aus der Elektronenrückstreubeugung gewonnenen Parameter, z. B. Missorientierungsparameter oder Daten über sowohl Korn- als auch Phasengrenzen stellen eine ideale, komplementäre Informationsquelle zu den Mikroskop-Aufnahmen dar. 

Dieser Vortrag behandelt zunächst die methodischen und metallographischen Abläufe der Charakterisierung und stellt dann an zwei Fallstudien an bainitischen Gefügen die praktischen Anwendungsmöglichkeiten des Ansatzes vor: eine objektweise Quantifizierung eines Dual-Phasen-Stahls sowie eine pixelweise Quantifizierung eines Complex-Phasen-Stahls.