Dünnschichtinterferenz entsteht durch kohärente Überlagerung von an Grenzflächen reflektiertem Licht in Schichten mit Dicken im Bereich der Wellenlänge. Phasenverschiebungen durch optische Weglängen und Brechungsindices führen zu konstruktiver oder destruktiver Interferenz. In den Materialwissenschaften wird dieses Phänomen zur Bestimmung von Schichtdicke, Brechungsindex und Homogenität sowie in optischen Beschichtungen genutzt.