Rasterelektronenmikroskopie ist ein abbildendes Verfahren, bei dem eine fokussierte Elektronenstrahlsonde zeilenweise über die Probe geführt wird. Aus Sekundär‑, Rückstreu- und charakteristischer Röntgenstrahlung werden topografische, kristallographische und chemische Informationen mit Auflösungen bis in den Nanometerbereich gewonnen. In der Werkstoffwissenschaft ist REM essenziell für Mikrostrukturanalyse, Bruchflächencharakterisierung und Phasenidentifikation.