Rasterelektronenmikroskopie

Rasterelektronenmikroskopie

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) verwendet fokussierte Elektronenstrahlen zur hochauflösenden Darstellung von Werkstoffoberflächen. Dieses Verfahren ermöglicht die Untersuchung von Morphologie, Zusammensetzung und feinen Strukturdetails, was in der Materialforschung essenziell ist.

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