XRD bezeichnet die Röntgendiffraktometrie, ein Beugungsverfahren zur Bestimmung der kristallinen Struktur von Werkstoffen. Aus den Beugungsprofilen werden Gitterparameter, Phasenzusammensetzung, Textur, Kristallitgröße und Eigenspannungen abgeleitet. In der Werkstoffwissenschaft ist XRD zentral für die Phasenanalyse, In-situ-Untersuchungen von Umwandlungen, Dünnschichtcharakterisierung und die Validierung von Modellen zu Kristallstruktur und Defektdichte.