SEM

Rasterelektronenmikroskopie nutzt einen fokussierten Elektronenstrahl, der zeilenweise über die Probenoberfläche geführt wird. Detektierte Sekundär-, Rückstreu- und charakteristische Strahlung liefern topographische, kompositorische und kristallographische Informationen mit Auflösungen bis in den Nanometerbereich. SEM ist ein zentrales Werkzeug zur Analyse von Mikrostrukturen, Bruchflächen, Beschichtungen und Partikeln in den Materialwissenschaften.