Spurenelementnachweis umfasst analytische Methoden zur Bestimmung extrem niedriger Elementkonzentrationen (ppm bis ppt) in Werkstoffen. Techniken wie ICP-MS, AAS oder TXRF sind entscheidend, da Spurenelemente Korrosion, Versprödung, Segregation oder Funktionalität stark beeinflussen können. Hohe Reinheitsanforderungen in Halbleitern, Supraleitern oder Hochleistungslegierungen machen empfindliche und selektive Nachweisverfahren sowie sorgfältige Probenvorbereitung erforderlich.