Fokussierte Ionenstrahlen werden eingesetzt, um präzise Schnitte und Modifikationen an Werkstoffen vorzunehmen. Die Methode stellt Musterproben her, die für mikroskopische Analysen wie Transmissionselektronenmikroskopie oder Röntgenbeugung erforderlich sind und bietet eine minimal invasive Probenvorbereitung.