Diese Arbeit beschäftigt sich mit den unterschiedlichen, in Komponenten kerntechnischer Anlagen aus Zirconiumlegierungen typischerweise auftretenden Mikrostrukturen. Dabei handelt es sich um Werkstoffe mit verschiedenen, durch thermomechanische Behandlung herbeigeführten Zuständen, z. B. kaltgewalzt, spannungsarm geglüht, rekristallisiert, geschweißt, zweiphasig nebst sekundären Minoritätsphasen, die zum Originalwerkstoff gehören oder aufgrund der Betriebsbedingungen enthalten sind. Die anisotrope Kristallstruktur von Zirconium wurde in mikroskopischen Betrachtungen mittels Polarisationsfiltern ausgewertet, die den Kontrast zwischen unterschiedlichen Körnern verstärken und bei der Identifizierung der meisten Mikrostrukturen eine große Hilfe sind. Die meisten mikrostrukturellen Varianten, wie beispielsweise solche, die durch Schweißvorgänge entstehen, können in einer großen Bandbreite von Längenskalen anhand der traditionellen optischen Mikroskopie (OM) effizient aufgelöst werden. Einige feinere Mikrostrukturen, wie solche, wie sie im Druckröhrenwerkstoff des CANDU-Reaktors¹ (CANada Deuterium Uranium) auftreten, oder einige sekundäre Minoritätsphasenpartikel wie die Zr(Fe, Cr)₂-Ausscheidungen in Zircaloy-4 können anhand dieser Technik nicht vollständig aufgelöst werden. Daher ist in solchen Fällen der Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) erforderlich. Wir beschäftigen uns auf der Basis von REM-Betrachtungen mit dem wichtigen Thema der Skalierung bei bestimmten Mikrostrukturuntersuchungen, durch die Mikrostrukturparameter mittels Bildanalyse quantitativ erfasst werden können. Bei den TEM-Betrachtungen waren uns die Elektronenbeugungsdiagramme sehr nützlich. Sie haben es uns ermöglicht, die Kristallstruktur der bestrahlten Sekundärphasenpartikel zu untersuchen, die sowohl im OM als auch bei einer Betrachtung im REM unbemerkt bleiben würden.