Ein Konfokalmikroskop nutzt punktuelle Beleuchtung und eine Lochblende im Detektionspfad, um außerhalb der Fokusebene liegendes Licht zu unterdrücken und optische Schnitte mit hoher axialer Auflösung zu erzeugen. In den Materialwissenschaften ermöglicht es dreidimensionale Bildgebung von Mikrostrukturen, Oberflächenrauheit, Defekten und Fluoreszenzmarkierungen, häufig in Kombination mit Laseranregung und spektraler Detektion.