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EWCPS 2025 - 20th European Winter Conference on Plasma Spectrochemistry
Elementaranalyse im Spurenbereich umfasst die quantitative Bestimmung von Elementkonzentrationen bis hin zu Ultra-Spuren. In der Werkstoffwissenschaft kommen Techniken wie ICP-MS, ICP-OES, TXRF oder Neutronenaktivierungsanalyse zum Einsatz. Sie erlauben die Kontrolle von Legierungsgehalten, Verunreinigungen und Dotierungen, welche Korrosionsverhalten, mechanische Eigenschaften und elektronische Funktionalität maßgeblich beeinflussen.
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