Abbildung der Mikrorissausbreitung in 3D-Nanostrukturen mittels Labor-Nano-XCT

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01.10.2024 (CEST)

Abbildung der Mikrorissausbreitung in 3D-Nanostrukturen mittels Labor-Nano-XCT

E. Zschech und K. Kutukova

Materialographie

Röntgentomographie

Degradationsmechanismen

3D-Nanostrukturen

Mikrorissausbreitung

Röntgenmikroskopie

Zerstörungsfreie Prüfung

Bruchmechanismus

In-situ Bildgebung

Die Labor-Röntgenmikroskopie und die Nano-Röntgen-Computertomographie (Nano-XCT) bieten die einzigartige Möglichkeit, eine Auflösung von unter 100 nm mit einer hohen Objektdurchdringung zu kombinieren. Daher sind dies geeignete zerstörungsfreie Prüfverfahren zur Erkennung von Fehlern mit einer Größe von 100 nm und darunter in nicht transparenten Objekten und Bulk-Materialien. Ein weiterer Vorteil der Röntgenmikroskopie – im Gegensatz zu zerstörenden Fehleranalysemethoden – besteht darin, dass kinetische Prozesse, wie die Entstehung von Mikrorissen, abgebildet werden können. Die einzigartige Kombination aus Mikromechanik und hochauflösender 3D-Bildgebung ermöglicht die Untersuchung von Degradations- und Versagensmechanismen in nicht transparenten 3D-Nanostrukturen und liefert grundlegende Informationen zur Bruchmechanik in kleinen Dimensionen. Die hochauflösende In-situ-/Operando-Bildgebung der Ausbreitung von Mikrorissen in mikroelektronischen Produkten und in Batterieelektroden wird demonstriert.

Zitieren Sie diesen Artikel

Zschech, E. and Kutukova, K.. "Imaging of microcrack propagation in 3D nanostructures applying laboratory nano-XCT" https://doi.org/10.1515/pm-2024-0074 © 2023 Walter de Gruyter GmbH, Berlin/Boston, Germany

Zeitschrift

Practical Metallography, vol. 61, no. 11, 2024, pp. 829-847

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