Dunkelfeldabbildung ist ein bildgebendes Verfahren in Licht- oder Elektronenmikroskopie, bei dem nur gestreute Strahlen zur Bildbildung genutzt werden. In der Transmissionselektronenmikroskopie ermöglicht sie die selektive Darstellung bestimmter Kristallorientierungen, Versetzungen, Ausscheidungen oder Nanophasen. Dadurch lassen sich Defektdichten, Korngrößenverteilungen und Phasenverteilungen mit hoher Kontrastierung und kristallographischer Sensitivität analysieren.
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