FIB/SEM

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FIB/SEM kombiniert einen fokussierten Ionenstrahl mit der Rasterelektronenmikroskopie, um Materialien durch gezielte Präparation und hochauflösende Analyse zu untersuchen. Diese Methode ermöglicht detaillierte Einsichten in Mikrostrukturen und Oberflächenmorphologien.

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