Räumliche Auflösung beschreibt die kleinste im Raum unterscheidbare Strukturlänge, die ein Mess- oder Abbildungsverfahren noch getrennt erfassen kann. In der Materialcharakterisierung bestimmt sie, ob nanoskalige Defekte, Korngrenzen, Phasenseparationen oder Poren detektierbar sind. Sie hängt von Wellenlänge, Optik bzw. Elektronenoptik, Detektoreigenschaften und Signal-Rausch-Verhältnis ab und ist entscheidend für die Auswahl geeigneter Mikroskopie- und Tomographiemethoden in den Werkstoffwissenschaften.