Lecture
Kaiser, J. (Speaker)¹; Zikmundova, E.¹; Porizka, P.¹; Kopřivová, H.¹; Bačová, T.¹; Sklenárková, D.²; Zatloukalová, T.²; Farka, Z.²; Skládal, P.²; Novotný, K.²
06.03.2025
EWCPS 2025
Die Nachweisgrenze ist die kleinste Konzentration oder Signalstärke eines Analyten, die ein Messverfahren mit vorgegebener statistischer Sicherheit von Rauschen unterscheiden kann. In der materialanalytischen Spektroskopie und Mikroskopie bestimmt sie die Fähigkeit, Spurenelemente, geringe Defektdichten oder dünne Schichten zu detektieren. Sie hängt von Instrumentempfindlichkeit, Untergrund, Messzeit und Auswertealgorithmen ab.
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