LA/ICP-ToF-MS

LA/ICP-ToF-MS kombiniert Laserablation fester Proben mit induktiv gekoppeltem Plasma und Flugzeit-Massenspektrometrie. Materialproben werden lokal ablatiert, das Aerosol im Plasma atomisiert/ionisiert und im ToF-Analysator simultan massenselektiv detektiert. Die Methode erlaubt ortsaufgelöste Mehr-Element- und Isotopenanalytik mit hoher Empfindlichkeit. Anwendungen umfassen Spurenelement-Mapping, Diffusionsprofil-Analyse, Phasencharakterisierung und Kontaminationsstudien in Metallen, Gläsern und Keramiken.