Analytische Elektronenmikroskopie kombiniert hochauflösende Bildgebung mit chemischer und struktureller Analyse im TEM oder STEM. Techniken wie EDX, EELS und Elektronenbeugung liefern Elementverteilungen, Bindungszustände, Dicke und Phaseninformationen im Nanometerbereich. Sie ist zentral für die Charakterisierung von Grenzflächen, Defekten, Nanopartikeln und Funktionsmaterialien.