Poster
Fernandes, J. (Speaker)¹; Vijayakumar, A.¹; Li, Y.¹; Zhou, J.²; Chiang, Y.-T.²; Dworschak, D.²; Ludwig, A.¹
MSE 2026
Ein Transmissions-Elektronenmikroskop nutzt hochenergetische Elektronen, die eine dünne Probe durchdringen, um Bild- und Beugungsinformationen mit atomarer bis nanometermäßiger Auflösung zu erzeugen. In der Werkstoffwissenschaft erlaubt es die Analyse von Kristallstruktur, Phasen, Versetzungen, Korngrenzen und Nanopartikeln mittels Hell-/Dunkelfeldabbildung, HRTEM, STEM, EDX- und EELS-Spektroskopie.
Frisch eingestellt
Vielgesehen
© 2026