Oberflächentopographie beschreibt die dreidimensionale Höhenverteilung einer Werkstoffoberfläche von Rauheit im Nanometerbereich bis zu Welligkeit im Mikrometer- oder Millimeterbereich. Sie beeinflusst Benetzbarkeit, Reibung, Verschleiß, Adhäsion, optische Eigenschaften und Zellantwort. Quantifiziert wird sie durch Parameter wie Ra, Rq oder Flächentexturkennwerte, erfasst etwa mittels AFM, konfokaler Mikroskopie oder Weißlichtinterferometrie.