Probenpräparation für Atomsondentomographie

PM Artikel

01.10.2024 (CEST)

Probenpräparation für Atomsondentomographie

P. Felfer, B. Ott und N. Vorlaufer

Atomsondentomographie

FIB - Anwendungen in der Materialographie

Elektropolieren

Atomsondentomographie

Probenpräparation

Fokussierter Ionenstrahl

Kryo-Präparation

In den vergangenen 20 Jahren hat sich die Atomsondentomographie von einer Nischenanwendung in der physikalischen Metallurgie zu einem fest etablierten Verfahren in weiten Teilen der Werkstoffwissenschaften und darüber hinaus entwickelt. Die Gründe hierfür liegen sowohl in der Verbesserung der Instrumente als auch der Probenpräparation. Durch die Verfügbarkeit der Geräte stellt nun eine erfolgreiche Probenpräparation oft den kritischsten Punkt bei Atomsondenuntersuchungen dar. Mit diesem Artikel soll ein Überblick über die unterschiedlichen zur Verfügung stehenden Präparationsmethoden gegeben und deren Herausforderungen diskutiert werden. Dies umfasst das einfache Elektropolieren als vorherrschendes Verfahren bis hin zur Einführung der Präparation mittels fokussiertem Ionenstrahl vor etwa 25 Jahren. Heute entfällt der größte Anteil wahrscheinlich auf Präparationsmethoden mittels fokussiertem Ionenstrahl, da sie eine ortsspezifische Probenpräparation, die Untersuchung von nicht-leitfähigen Proben und meist einen höheren Durchsatz ermöglichen. Durch kontinuierliche Verbesserungen wie z. B. durch Hochstrom-Plasma-Ionensäulen, die Kryo-Präparation von empfindlichen Werkstoffen und von Stoffen, die bei Raumtemperatur flüssig sind, sowie „additiven“ Verfahren für Nanomaterialien lässt sich das Spektrum von Werkstoff

Zitieren Sie diesen Artikel

Felfer, P., Ott, B. and Vorlaufer, N.. "Specimen preparation for atom probe tomography" https://doi.org/10.1515/pm-2024-0075 © 2023 Walter de Gruyter GmbH, Berlin/Boston, Germany

Zeitschrift

Practical Metallography, vol. 61, no. 11, 2024, pp. 848-864

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