Bezeichnet die Dehnung oder Stauchung eines epitaktisch gewachsenen Dünnfilms infolge Gitterfehlanpassung zum Substrat. Sie beeinflusst elektronische Struktur, Phasenstabilität, ferroelektrische, ferro- und antiferromagnetische sowie mechanische Eigenschaften. Durch kontrollierte Verzerrung lassen sich funktionale Eigenschaften gezielt einstellen, etwa in Oxidheterostrukturen und Halbleitern.
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