Korrelative Mikroskopie verknüpft komplementäre Bildgebungs- und Analyseverfahren, etwa Licht-, Elektronen- und Rastersondenmikroskopie, oft ergänzt durch Spektroskopie. Durch räumlich registrierte Datensätze werden Struktur, Chemie, Kristallographie und Funktion desselben Probenvolumens zusammengeführt. In der Materialwissenschaft erlaubt dies eine multiskalige, multimodale Beschreibung von Defekten, Grenzflächen, Phasenverteilungen und lokalen Eigenschaften bis in den Nanometerbereich.