Korrelierende Mikroskopie kombiniert komplementäre bildgebende Verfahren, etwa Licht‑, Elektronen‑, Röntgen‑ und Rastersondenmikroskopie, an exakt derselben Probenregion. Durch räumliche Registrierung und Datenfusion werden strukturelle, chemische, funktionelle und dynamische Informationen verknüpft. Dies ermöglicht multiskalige Analysen von Mikrostrukturen, Grenzflächen, Defekten und in‑situ‑Prozessen mit hoher Präzision und verbessertem Verständnis von Struktur‑Eigenschafts‑Beziehungen.