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ICP-OES-Analyse

Die ICP‑OES‑Analyse basiert auf der Anregung von Atomen und Ionen in einem induktiv gekoppelten Plasma und der Detektion ihrer charakteristischen Emissionslinien. Sie ermöglicht simultane, mehrkomponentige Spuren- und Hauptbestandteilanalytik von Legierungen, Keramiken, Gläsern und Umweltproben. In der Werkstoffwissenschaft wird sie zur Reinheitskontrolle, Legierungsverifikation, Analyse von Verunreinigungen, Korrosionsprodukten und Diffusionsprofilen eingesetzt.

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