Atomare Charakterisierung umfasst experimentelle und rechnerische Methoden zur Bestimmung der Struktur und Chemie von Materialien auf atomarer Skala. Techniken wie TEM, STEM-EDS/EELS, STM, AFM und Atomsondentomographie liefern Ortsauflösungen bis in den Sub-Ångström-Bereich. In Kombination mit DFT und atomistischen Simulationen ermöglicht sie das Verständnis von Defekten, Grenzflächen und Mechanismen der Gefügeentwicklung.