Kerr-Mikroskopie basiert auf dem magnetooptischen Kerr-Effekt, bei dem die Polarisation von reflektiertem Licht durch die Magnetisierung eines Materials verändert wird. Sie erlaubt die bildgebende Darstellung magnetischer Domänen, Domänenwände und Schaltprozesse in dünnen Schichten und Bulkmaterialien. Sie wird zur Charakterisierung von Ferromagneten, Spintronik-Materialien und magnetischen Funktionselementen eingesetzt.