FIB-SEM Tomographie kombiniert fokussierten Ionenstrahl und Rasterelektronenmikroskopie zur Erstellung dreidimensionaler Bilder von Mikrostrukturen. Diese Technik erlaubt die detaillierte Visualisierung von Porosität, Phasengrenzen und anderen Materialinterna mit hoher Auflösung, was für ein vertieftes Verständnis der Werkstoffeigenschaften unerlässlich ist.