Das Rasterkraftmikroskop ist ein kraftbasiertes Scanmikroskop, das mittels einer feinen Spitze an einem Biegebalken topografische und mechanische Eigenschaften von Oberflächen mit Subnanometerauflösung erfasst. Durch Auswertung der Spitzenablenkung werden Höhenprofile, Adhäsion, Elastizität und Reibung bestimmt. In der Werkstoffwissenschaft ermöglicht AFM die Charakterisierung von Nanostrukturen, Dünnschichten, Grenzflächen und lokalen Materialeigenschaften unter variablen Umgebungsbedingungen.